報告題目：In situ electron microscopy for probing material structures and properties

報告人： Prof. Chaoying Ni（倪超英）, 美國特拉華大學(xué)(University of Delaware)

報告時(shí)間：4.2（周二）上午10：00點(diǎn)

報告地點(diǎn)：東區明行樓112教室

倪超英教授簡(jiǎn)介：

    1997年獲美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)博士，物理系博士后，1997-2001歷任巴塔公司(Batta Labs)、羅德?tīng)柟?Rodel, 現Dow Chemical) 實(shí)驗室主管及研究科學(xué)家等職。2001年回到特拉華大學(xué)，現為該校材料科學(xué)與工程系終身教授，W. M. Keck先進(jìn)顯微技術(shù)及分析中心主任，同時(shí)也是常州大學(xué)兼職教授，《常州大學(xué)學(xué)報》特邀外籍編委。主要研究領(lǐng)域: 現代電子顯微技術(shù)在材料科學(xué)中的應用、納米催化表面和界面、先進(jìn)復合材料、太陽(yáng)能及光熱電轉換等。在Journal of the American Chemical Society, Langmuir, Applied CatalysisB:Environmental, Applied Physics Letters, Nano Letters, Journal of Power Sources, Green Chemistry, Solar Energy Materials and Solar Cells, Nature Communications，Physical review B等期刊發(fā)表論文180余篇。